Baza technologii


Logo wpisu Modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO 02

Modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO 02

Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania

Opis technologii

Modułowy system do pomiaru i analizy geometrii powierzchni TOPO 02 przeznaczony jest do pomiarów geometrii wyrobów oraz wszystkich możliwych parametrów wyznaczanych dla oceny struktury geometrycznej powierzchni, w tym mikrogeometrii. Szeroki zakres możliwości pomiarowych oraz rozbudowane oprogramowanie w zakresie analizy zmierzonych powierzchni i zarysów, umożliwiają przeprowadzanie pełnej analizy topografii zmierzonej powierzchni: chropowatości, falistości, prostoliniowości i kształtu, zarówno dla pojedynczych przekrojów jak i dla pomiarów przestrzennych 3D. Stosując różne głowice pomiarowe, można wykonać kompleksowe badania metrologiczne związane nie tylko z chropowatością, ale również z wymiarami i kształtem elementów, zarówno w zakresie do 50 mm amplitudy jak i w zakresie mikrogeometrii poniżej 1 mm. Parametry techniczne systemu TOPO 02: - zakres pomiaru w osi X 120 mm - zakres pomiarowy w osi Y 25 mm do 100mm - zakres przesuwu w osi H 500 mm (oś pionowa – kolumna) Pomiar chropowatości: - system pomiaru w osi Z przetwornik indukcyjny - zakresy pomiarowe w osi Z: głowica BS1000 - 1000 µm, głowica BS2 - 2000 µm Pomiar kształtu: - system pomiaru w osi Z czujnik cyfrowy D50 / rozdzielczość 0,1 mm - zakres pomiarowy w osi Z 50 mm - ostrze łopatka: kąt ostrza 11°, promień ostrza R=25 mm odwzorowanie kątów (wejścia/zejścia) max. 77°/88° - ostrze stożek: kąt wierzchołkowy stożka 30°, promień ostrza R=100 mm odwzorowanie kątów (wejścia/zejścia) max. 73°/73°

Zalety / korzyści z zastosowania technologii

Innowacyjnością rozwiązania jest możliwość podłączania do systemu pomiarowego różnych dodatkowych czujników, a także rozbudowane oprogramowanie własne w zakresie analizy zmierzonych powierzchni i zarysów, które możemy rozwijać. Szeroki zakres możliwości pomiarowych i rozbudowane oprogramowanie umożliwiają przeprowadzenie pełnej analizy topografii zmierzonej powierzchni: chropowatości, falistości, prostoliniowości i kształtu, zarówno dla pojedynczych przekrojów jak i dla pomiarów przestrzennych 3D oraz analizę geometrii przekrojów, w tym również mikrogeometrii, pozwalają realizować różne zadania metrologiczne. System może znaleźć szerokie zastosowanie do badań w zakresie mikrotechnologii wytwarzania oraz kontroli jakości produkcji wielu parametrów struktury geometrycznej powierzchni jednym urządzeniem. Kontrola jakości podnosi walory użytkowe wyrobów, zapewnia bezpieczeństwo, zapewnia wysoką jakość produkcji.

Zastosowanie rynkowe

W branży elektromaszynowej system TOPO 02 umożliwia kontrolę jakości wyrobów w zakresie zarysów kształtu i chropowatości powierzchni. W branży medycyna, biotechnologia i farmacja system TOPO 02 umożliwia kontrolę jakości wyrobów w zakresie zarysów mikrokształtu i chropowatości powierzchni.

Tagi

Branże

Lokalizacja

Dane podmiotu

Nazwa: Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania

NIP: 6750001774

Adres www: http://www.ios.krakow.pl

Typ podmiotu: Instytut naukowo - badawczy

Wielkość: Średnie

Forma ochrony

Chronione prawem autorskim

Poziom gotowości technologicznej

None

Forma komercjalizacji

Komercyjne usługi badawcze

Dodatkowe informacje

Inne podmioty/osoby nie posiadają praw własności do tej technologii.
Posiadający technologię zapewnia doradztwo związane z wdrożeniem.

Dodano 12 maja 2021 16:53

Wróć na stronę "Bazy"