Baza technologii


Logo wpisu Całkowicie optyczna metoda pomiaru stałych elastyczności  K22 i K33 w nematycznych ciekłych kryształach z wykorzystaniem układu skanowania podłużnego

Całkowicie optyczna metoda pomiaru stałych elastyczności K22 i K33 w nematycznych ciekłych kryształach z wykorzystaniem układu skanowania podłużnego

Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.

Opis technologii

Koncepcja całkowitego pomiaru stałych elastyczności K22 i K33 w nematycznych ciekłych kryształach z wykorzystaniem układu skanowania podłużnego polega na nowatorskim sposobie wyznaczenia wartości progowego natężenia pola elektrycznego będącego składową monochromatycznej, liniowo spolaryzowanej wiązki fali elektro-magnetycznej.

Zalety / korzyści z zastosowania technologii

1) Dokładniejszy niż w innych metodach pomiar stałych elastyczności K22 i K33 poprzez wyznaczenie progowego natężenia pola elektrycznego będącego składową wykorzystanej w badaniu wiązki fali elektro-magnetycznej. 2) Metoda nie wymaga wykorzystania skomplikowanych konstrukcji komórek ciekłokrystalicznych wyposażonych w dodatkowe elektrody co zmniejsza koszt ich produkcji oraz poprawia jakość. 3) Niewrażliwość na początkowe ustawienie badanej próbki w układzie pomiarowym eliminuje niepewność związaną z dokładnym określeniem oświetlanego obszaru warstwy nematycznego ciekłego kryształu. Możliwa jest kontrola długości pojedynczego kroku przesuwu próbki wzdłuż kierunku propagacji wiązki fali elektro-magnetycznej. 4) Pełna automatyzacja zapewniająca dużą powtarzalność uzyskanych wyników. 5) Prostszy pomiar wartości K22 niż w metodach wykorzystujących zewnętrzne pole elektryczne.

Zastosowanie rynkowe

Celem wykorzystania technologii jest precyzyjny pomiar stałych elastyczności K22 i K33 nematycznych ciekłych kryształach. Parametry te są wykorzystywane przy konstrukcji między innymi wyświetlaczy ciekłokrystalicznych, ciekłokrystalicznych czujników temperatury i ciśnienia oraz ciekłokrystalicznych przełączników optycznych.

Tagi

Branże

Lokalizacja

Dane podmiotu

Nazwa: Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.

NIP: 7010360620

Adres www: http://www.ibs.pw.edu.pl

Typ podmiotu: Przedsiębiorstwo

Wielkość: Małe

Forma ochrony

Wynalazek

Poziom gotowości technologicznej

None

Forma komercjalizacji

Licencja

Dodatkowe informacje

Inne podmioty/osoby nie posiadają praw własności do tej technologii.
Posiadający technologię zapewnia doradztwo związane z wdrożeniem.

Dodano 12 maja 2021 16:52

Wróć na stronę "Bazy"