Baza technologii


Logo wpisu Miniaturowy precyzyjny czujnik odchylenia od pionu

Miniaturowy precyzyjny czujnik odchylenia od pionu

Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.

Opis technologii

Czujnik bazuje na wykorzystaniu akcelerometrów MEMS do dwuosiowego pomiaru odchylenia od pionu. Zakres pomiarowy: 2 x 360 stopni, dokładność ok. 0,2 stopnia, wymiary głowicy: 50 x 50 x 50 mm (możliwe są cztery wersje czujnika: z głowicą bezprzewodową, z głowicą połączoną kablem, z systemem mikroprocesorowym, z wykorzystaniem komputera PC).

Zalety / korzyści z zastosowania technologii

Docelowo niska cena czujnika, pełny zakres pomiarowy, duża dokładność. Możliwość realizacji dwuosiowych pomiarów odchylenia od pionu: 1. o dużej dokładności, 2. w pełnym zakresie pomiarowym (360 stopni), 3. w przypadku ograniczonego miejsca na zamocowanie czujnika (głowica ma objętość tylko 125 cm sześciennych).

Zastosowanie rynkowe

Pomiary odchylenia od pionu w warunkach quasi-statycznych (poziomowanie, nawigacja, monitorowanie stabilności, wyznaczanie kątów orientacji przestrzennej, itp.). Tego typu pomiary występują w bardzo wielu dziedzinach. Czujnik jest więc ogólnego przeznaczenia, adresowany jest do bardzo szerokiego grona użytkowników.

Tagi

Branże

Lokalizacja

Dane podmiotu

Nazwa: Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.

NIP: 7010360620

Adres www: http://www.ibs.pw.edu.pl

Typ podmiotu: Przedsiębiorstwo

Wielkość: Małe

Forma ochrony

Strzeżone know-how
Chronione prawem autorskim

Poziom gotowości technologicznej

None

Forma komercjalizacji

Licencja
Współpraca techniczna (umowa o doradztwo)
Umowa produkcyjna (podwykonawstwo)
Komercyjne usługi badawcze

Dodatkowe informacje

Inne podmioty/osoby nie posiadają praw własności do tej technologii.
Posiadający technologię zapewnia doradztwo związane z wdrożeniem.

Dodano 12 maja 2021 16:53

Wróć na stronę "Bazy"