Baza technologii

Miniaturowy precyzyjny czujnik odchylenia od pionu
Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.
Opis technologii / usługi
Czujnik bazuje na wykorzystaniu akcelerometrów MEMS do dwuosiowego pomiaru odchylenia od pionu. Zakres pomiarowy: 2 x 360 stopni, dokładność ok. 0,2 stopnia, wymiary głowicy: 50 x 50 x 50 mm (możliwe są cztery wersje czujnika: z głowicą bezprzewodową, z głowicą połączoną kablem, z systemem mikroprocesorowym, z wykorzystaniem komputera PC).
Zalety / korzyści z zastosowania technologii
Docelowo niska cena czujnika, pełny zakres pomiarowy, duża dokładność. Możliwość realizacji dwuosiowych pomiarów odchylenia od pionu: 1. o dużej dokładności, 2. w pełnym zakresie pomiarowym (360 stopni), 3. w przypadku ograniczonego miejsca na zamocowanie czujnika (głowica ma objętość tylko 125 cm sześciennych).
Zastosowanie rynkowe
Pomiary odchylenia od pionu w warunkach quasi-statycznych (poziomowanie, nawigacja, monitorowanie stabilności, wyznaczanie kątów orientacji przestrzennej, itp.). Tego typu pomiary występują w bardzo wielu dziedzinach. Czujnik jest więc ogólnego przeznaczenia, adresowany jest do bardzo szerokiego grona użytkowników.
Tagi
Branże
Lokalizacja
Dane podmiotu
Nazwa: Instytut Badań Stosowanych Politechniki Warszawskiej Sp. z o.o.
NIP: 7010360620