Baza technologii


Logo wpisu Sposób kompensacji błędów w skanujących systemach pomiarowych

Sposób kompensacji błędów w skanujących systemach pomiarowych

Instytut Optyki Stosowanej imienia prof. Maksymiliana Pluty

Opis technologii

Technologia jest przeznaczona do stosowania w skanujących systemach pomiarowych z jedną lub dwiema głowicami konfokalnymi do pomiarów kształtu powierzchni i grubości badanego obiektu, zwłaszcza cienkich płytek, w których wykorzystuje się wzorzec optyczny zawierający co najmniej jeden punkt lub grupę punktów referencyjnych o znanych lub założonych parametrach. Według wynalazku dokonuje się naprzemiennie pomiaru wartości wzorca w punkcie lub grupie punktów referencyjnych oraz pomiaru wartości w punktach badanego obiektu.

Zalety / korzyści z zastosowania technologii

Technologia pozwala na bardzo dokładne pomiary kształtu i grubości cienkich struktur.

Zastosowanie rynkowe

Branża elektromaszynowa Bardzo dokładne pomiary kształtu i grubości cienkich struktur. Zastosowanie jest efektywne szczególnie w systemach skanujących, gdzie czas pomiaru przy wysokiej rozdzielczości poprzecznej jest stosunkowo długi.

Tagi

Branże

Lokalizacja

Dane podmiotu

Nazwa: Instytut Optyki Stosowanej imienia prof. Maksymiliana Pluty

NIP: 5250008790

Kraj: Polska

Typ podmiotu: Instytut naukowo - badawczy

Wielkość: Małe

Forma ochrony

Wynalazek

Poziom gotowości technologicznej

None

Forma komercjalizacji

Umowa produkcyjna (podwykonawstwo)

Dodatkowe informacje

Inne podmioty/osoby nie posiadają praw własności do tej technologii.
Posiadający technologię zapewnia doradztwo związane z wdrożeniem.

Dodano 13 maja 2021 17:33

Wróć na stronę "Bazy"