Baza technologii


Logo wpisu Układ do pomiaru zmian współczynnika załamania i dwójłomności wywołanych efektami nieliniowymi w mikroobszarach materiałów optycznych

Układ do pomiaru zmian współczynnika załamania i dwójłomności wywołanych efektami nieliniowymi w mikroobszarach materiałów optycznych

Instytut Optyki Stosowanej imienia prof. Maksymiliana Pluty

Opis technologii

Przedmiotem patentu jest nowy układ do pomiaru zmian współczynnika załamania i dwójłomności materiałów, wywołanych efektami nieliniowymi powstałymi w wyniku oddziaływania światła laserowego dużej mocy z materiałami. Pomiar parametrów optycznych następuje w mikroobszarach materiałów optycznych. Technologia pomiarowa przeznaczona jest do stosowania w metrologii parametrów optycznych materiałów, spektroskopii, metrologii dyspersji opóźnienia fazowego oraz badań zjawisk nieliniowych w materiałach optycznych. Układ pomiarowy wykorzystuje laser femtosekundowy, którego impulsy dużej mocy dzielone są na dwie części. Pierwsza część impulsu przechodząc przez badany materiał wywołuje w nim zmiany jego parametrów optycznych, natomiast druga część impulsu, dzięki układowi synchronizacji tworzy w interferometrze VAWI interferogram obszaru, dokładnie w miejscu i czasie, w którym pierwsza część impulsu znajduje się w badanym obszarze. Technologia pomiarowa pozwala mierzyć chwilowe zmiany parametrów optycznych materiałów w mikroobszarach.

Zalety / korzyści z zastosowania technologii

Technologia jest obecnie jedyną dostępną na rynku technologią pomiarową, która pozwala mierzyć zmiany parametrów optycznych materiałów wywołanych oddziaływaniem światła laserowego dużej mocy z materią, w mikroobszarach, dokładnie w miejscu i czasie oddziaływania impulsu z materią.

Zastosowanie rynkowe

Pomiar parametrów optycznych nowych materiałów w biotechnologii i farmacji, badania oddziaływania i wpływu światła laserowego dużej mocy o wybranych długościach fal na procesy biochemiczne i chemiczne w syntezie środków farmakologicznych.

Tagi

Branże

Lokalizacja

Dane podmiotu

Nazwa: Instytut Optyki Stosowanej imienia prof. Maksymiliana Pluty

NIP: 5250008790

Kraj: Polska

Typ podmiotu: Instytut naukowo - badawczy

Wielkość: Małe

Forma ochrony

Wynalazek

Poziom gotowości technologicznej

None

Forma komercjalizacji

Komercyjne usługi badawcze

Dodatkowe informacje

Inne podmioty/osoby nie posiadają praw własności do tej technologii.
Posiadający technologię zapewnia doradztwo związane z wdrożeniem.

Dodano 13 maja 2021 17:33

Wróć na stronę "Bazy"